IEC 62373-2006 标准详情
- 标准号：IEC 62373-2006
- 中文标题：金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
- 英文标题：bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (mosfet)
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2006-07-18
IEC 62373-2006 金属氧化物半导体场效应管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
内容简介
This International Standard provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability testof metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
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