JEDEC JESD51-31-2008 标准详情
- 标准号：JEDEC JESD51-31-2008
- 中文标题：用于多片包装的热试验环境改善
- 英文标题：thermal test environment modifications for multichip packages
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：2008-07-01
JEDEC JESD51-31-2008 用于多片包装的热试验环境改善
内容简介
This document specifies the appropriate modifications needed for Multi-Chip Packages to thethermal test environmental conditions specified in the JESD51 series of specifications. The dataobtained from methods of this document are the raw data used to
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