ISO 29301-2010 微光束分析 分析透射电子显微镜 通过使用有周期性结构的标准物质校准图像放大率的方法
ISO 29301-2010 标准详情
- 标准号：ISO 29301-2010
- 中文标题：微光束分析 分析透射电子显微镜 通过使用有周期性结构的标准物质校准图像放大率的方法
- 英文标题：microbeam analysis -- analytical transmission electron microscopy -- methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
- 标准类别：国际标准化组织标准ISO
- 发布日期：2010-05-17
内容简介
ISO 29301:2010 specifies a calibration procedure applicable to images recorded over a wide magnification range in a transmission electron microscope (TEM). The reference materials used for calibration possess a periodic structure, such as a diffracti
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