BS ISO 14606-2000 分析仪器的Chemische的oberflaechen ， tiefenprofilanalyse MIT ionenstrahlzerstaeubung ， optimierung MIT hilfe冯referenzschichtsystemen表面化学分析 - 采用分层的体系作为参考材料分析优化 - 溅射深度剖析
BS ISO 14606-2000 标准详情
- 标准号：BS ISO 14606-2000
- 中文标题：分析仪器的Chemische的oberflaechen ， tiefenprofilanalyse MIT ionenstrahlzerstaeubung ， optimierung MIT hilfe冯referenzschichtsystemen表面化学分析 - 采用分层的体系作为参考材料分析优化 - 溅射深度剖析
- 英文标题：chemische analytik an oberflaechen. tiefenprofilanalyse mit ionenstrahlzerstaeubung. optimierung mit hilfe von referenzschichtsystemen surface chemical analysis - sputter depth profiling - optimization using layered systems as reference materials ana
- 标准类别：英国标准
- 发布日期：2000-01-01
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