ASTM F847-1983 标准详情
- 标准号：ASTM F847-1983
- 中文标题：标准方法测定对单晶硅片和晶片单位的结晶取向由X射线技术
- 英文标题：standard methods for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal silicon slices and wafers by x-ray techniques
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：
ASTM F847-1983 标准方法测定对单晶硅片和晶片单位的结晶取向由X射线技术
内容简介
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：