DIN EN 60749-2000 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-2000
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996); German version EN 60749:1999
- 标准类别：德国标准DIN
- 发布日期：2000-02
DIN EN 60749-2000 半导体器件.机械和气候试验方法
内容简介
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