JEDEC JESD22-C101F-2013 标准详情
- 标准号：JEDEC JESD22-C101F-2013
- 中文标题：场致带电器件模型试验方法静电放电耐压微电子元件的阈值
- 英文标题：Field-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic-Discharge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components
- 标准类别：电子元件工业联合会JEDEC
- 发布日期：2013
JEDEC JESD22-C101F-2013 场致带电器件模型试验方法静电放电耐压微电子元件的阈值
内容简介
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