EN 15991-2011 陶瓷和基本材料测试 - 直接测定中的粉末和碳化硅的颗粒杂质的质量分数的电感耦合等离子体发射光谱法（ICP OES）与电热蒸发（ ETV）
EN 15991-2011 标准详情
- 标准号：EN 15991-2011
- 中文标题：陶瓷和基本材料测试 - 直接测定中的粉末和碳化硅的颗粒杂质的质量分数的电感耦合等离子体发射光谱法（ICP OES）与电热蒸发（ ETV）
- 英文标题：testing of ceramic and basic materials - direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optical emission spectrometry (icp oes) with electrothermal vaporisation (etv)
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2011-01-01
内容简介
Specifies a method for the determination of the trace element concentrations of Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V and Zr in powdered and granular silicon carbide.
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