IEC/TS 61967-3-2005 集成电路.150 kHz 到 1 GHz电磁辐射的测量.第3部分:放射形辐射测量.表面扫描法
IEC/TS 61967-3-2005 标准详情
- 标准号：IEC/TS 61967-3-2005
- 中文标题：集成电路.150 kHz 到 1 GHz电磁辐射的测量.第3部分:放射形辐射测量.表面扫描法
- 英文标题：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan method
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2005-06
内容简介
THIS PART OF IEC 61967 PROVIDES A TEST PROCEDURE WHICH DEFINES A METHOD FOR EVALUATING THE NEAR ELECTRIC, MAGNETIC OR ELECTROMAGNETIC FIELD COMPONENTS AT OR NEAR THE SURFACE OF AN INTEGRATED CIRCUIT (IC). THIS DIAGNOSTIC PROCEDURE IS INTENDED FOR IC
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