DIN EN 60749-3 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-3
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第3部分：外部目视检查
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 3: External Visual Inspection
- 标准类别：德国标准DIN
- 发布日期：
DIN EN 60749-3 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第3部分：外部目视检查
内容简介
Verifies that the materials, design, construction, markings, and workmanship of a semiconductor device are in accordance with the applicable procurement document.
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