ASTM P224- 标准详情
- 标准号：ASTM P224-
- 中文标题：试验方法测定的体积和外延硅晶圆的净载流子密度通过使用撤销1992年水银探头
- 英文标题：test method for determining the net carrier density on bulk and epitaxial silicon wafers by using a mercury probe withdrawn 1992
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：
ASTM P224- 试验方法测定的体积和外延硅晶圆的净载流子密度通过使用撤销1992年水银探头
内容简介
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