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ISO 13084-2011 表面化学分析.二次离子质谱分析法.飞行时间二次离子质谱仪用质量标度的校准

ISO 13084-2011 表面化学分析.二次离子质谱分析法.飞行时间二次离子质谱仪用质量标度的校准

ISO 13084-2011 标准详情

  • 标准号:ISO 13084-2011
  • 中文标题:表面化学分析.二次离子质谱分析法.飞行时间二次离子质谱仪用质量标度的校准
  • 英文标题:surface chemical analysis -- secondary-ion mass spectrometry -- calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer
  • 标准类别:国际标准化组织标准ISO
  • 发布日期:2011-05-05

内容简介

This International Standard specifies a method to optimize the mass calibration accuracy in time-of-flight SIMSinstruments used for general analytical purposes. It is only applicable to time-of-flight instruments but is notrestricted to any particula

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