DIN IEC 60749-38 标准详情
- 标准号：DIN IEC 60749-38
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第38部分：电子元器件的软错误率测试（ IEC一千七百九十六分之四十七/ CD ： 2004）
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error rate testing of electronic components (IEC 47/1796/CD:2004)
- 标准类别：德国标准DIN
- 发布日期：
