EIA JEB15-1969 标准详情
- 标准号：EIA JEB15-1969
- 中文标题：术语和测量用于双稳态半导体微电路的方法
- 英文标题：terminology and methods of measurement for bistable semiconductor microcircuits
- 标准类别：美国电子工业协会标准
- 发布日期：1969-01-01
EIA JEB15-1969 术语和测量用于双稳态半导体微电路的方法
内容简介
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