OVE/ONORM EN 60749-30-2005 标准详情
- 标准号：OVE/ONORM EN 60749-30-2005
- 中文标题：半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第30部分：预处理的非密封表面贴装器件可靠性试验前
- 英文标题：Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 30: Preconditioning Of Non-hermetic Surface Mount Devices Prior To Reliability Testing
- 标准类别：奥地利国家标准ONORM
- 发布日期：
