ASTM F817-1983 标准详情
- 标准号：ASTM F817-1983
- 中文标题：薄膜电阻器材料及工艺特性的试验方法
- 英文标题：test method for characterization of film resistor materials and processes
- 标准类别：美国材料与试验协会ASTM
- 发布日期：1983-01-01
ASTM F817-1983 薄膜电阻器材料及工艺特性的试验方法
内容简介
1.1 This method determines a characteristic equation that describes the overall characteristics of a resistor material and the process used to produce thick or thin film resistors. 1.2 This method provides two linear, statistical models for charact
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