ISO 22493-2014 标准详情
- 标准号：ISO 22493-2014
- 中文标题：微束分析 - 扫描电镜 - 词汇
- 英文标题：Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary
- 标准类别：国际标准化组织ISO
- 发布日期：2014-04
ISO 22493-2014 微束分析 - 扫描电镜 - 词汇
内容简介
ISO 22493:2014 defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in I
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