IEEE 1505.1-2008 利用IEEE Std 1505?高密度、单天线阵电子试验要求的通用试验接口标针地图框架用IEEE试验用标准
IEEE 1505.1-2008 标准详情
- 标准号：IEEE 1505.1-2008
- 中文标题：利用IEEE Std 1505?高密度、单天线阵电子试验要求的通用试验接口标针地图框架用IEEE试验用标准
- 英文标题：trial-use standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing ieee std 1505
- 标准类别：国际电工协会标准IEEE
- 发布日期：2008-09-26
内容简介
The scope of this trial-use standard is the definition of a pin map utilizing the IEEE 1505? 1 receiver fixtureinterface (RFI). The pin map defined within this trial-use standard shall apply to military and aerospaceautomatic test equipment (ATE) tes
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