JEDEC JEB5-A-1970 标准详情
- 标准号：JEDEC JEB5-A-1970
- 中文标题：半导体逻辑门微电路测量方法
- 英文标题：methods of measurement for semiconductor logic gating microcircuits
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：1970-01-01
JEDEC JEB5-A-1970 半导体逻辑门微电路测量方法
内容简介
For the c i r c u i t configurations of semiconductor logic gating microci r c u i t s which use binary states to represent the d i g i t a l information, al o g i c a l relationship exists between input and output. The l o g i c a l conditionscan be
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