JEDEC EIA-353-1968 标准详情
- 标准号：JEDEC EIA-353-1968
- 中文标题：20 kHz频段以上的晶体管噪声轮廓的测试
- 英文标题：transistor noise figure at frequencies up to 20 khz by sinusoidal signal-generator method, measurement of
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：1968-01-01
JEDEC EIA-353-1968 20 kHz频段以上的晶体管噪声轮廓的测试
内容简介
The following noise measurement method applies to transistors whose noise has a Gaussian powerdistribution, to transistors whose noise has a flat (white) power distribution, and to transistors whosenoise has a l/f (power inversely proportional to fre
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：