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EIA/TIA 455-119-1997 涂层几何形状测量光纤通过灰度分析

EIA/TIA 455-119-1997 涂层几何形状测量光纤通过灰度分析

EIA/TIA 455-119-1997 标准详情

  • 标准号:EIA/TIA 455-119-1997
  • 中文标题:涂层几何形状测量光纤通过灰度分析
  • 英文标题:Coating Geometry Measurement For Optical Fiber By Gray-scale Analysis
  • 标准类别:美国电子工业协会EIA
  • 发布日期:

内容简介

Deals with off-line measurement of the dimensions of optical fiber coatings. The parameters covered are diameter, noncirularity and coating/cladding concentricity error. Additionally, if more than one coating layer is present, the geometry of each la

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