IEC 62132-2-2010 集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分:辐射抗扰度的测量 TEM单元和宽带TEM单元方法
IEC 62132-2-2010 标准详情
- 标准号：IEC 62132-2-2010
- 中文标题：集成电路 电磁抗扰度的测量 第2部分:辐射抗扰度的测量 TEM单元和宽带TEM单元方法
- 英文标题：integrated circuits - measurement of electromagnetic immunity - part 2: measurement of radiated immunity - tem cell and wideband tem cell method
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2010-03-30
内容简介
IEC 62132-2:2010 SPECIFIES A METHOD FOR MEASURING THE IMMUNITY OF AN INTEGRATED CIRCUIT (IC) TO RADIO FREQUENCY (RF) RADIATED ELECTROMAGNETIC DISTURBANCES. THE FREQUENCY RANGE OF THIS METHOD IS FROM 150 KHZ TO 1 GHZ, OR AS LIMITED BY THE CHARACTERIST
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