JEDEC EIA-340-1967 标准详情
- 标准号：JEDEC EIA-340-1967
- 中文标题：|Cre|测量标准
- 英文标题：measurement of/cre/
- 标准类别：电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期：1967-01-01
JEDEC EIA-340-1967 |Cre|测量标准
内容简介
This standard offers an easily-measured parameter which is one of the significant characteristicsin determining the stability of a transistor intended for small-signal operation. The measurement techniqueallows rapid testing. Its close correlation to
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