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JEDEC JEP134-1998 顾客提供的半导体仪器失败分析背景信息指南

JEDEC JEP134-1998 顾客提供的半导体仪器失败分析背景信息指南

JEDEC JEP134-1998 标准详情

  • 标准号:JEDEC JEP134-1998
  • 中文标题:顾客提供的半导体仪器失败分析背景信息指南
  • 英文标题:guidelines for preparing customer-supplied background information relating to a semiconductor-device failure analysis
  • 标准类别:电子元件工业联合会标准JEDEC
  • 发布日期:1998-09-01

内容简介

This Guideline addresses acquiring and transmitting pertinent background information that afailure analyst should have to complete an accurate and timely failure analysis of asemiconductor device. To this end, a suggested background-data form and exp

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