EIA JESD22-C101-A-2000 标准详情
- 标准号：EIA JESD22-C101-A-2000
- 中文标题：电场感应带电器件模型试验方法静电放电耐受微电子元件的阈值
- 英文标题：field-induced charged-device model test method for electrostatic-discharge-withstand thresholds of microelectronic components
- 标准类别：美国电子工业协会标准
- 发布日期：2000-06-01
