IEC 60749-4-2002 标准详情
- 标准号：IEC 60749-4-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2002-04
IEC 60749-4-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验
内容简介
PROVIDES A HIGHLY ACCELERATED TEMPERATURE AND HUMIDITY STRESS TEST (HAST) FOR THE PURPOSE OF EVALUATING THE RELIABILITY OF NON-HERMETIC PACKAGED SEMICONDUCTOR DEVICES IN HUMID ENVIRONMENTS.
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