DIN EN 62373-2007 金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
DIN EN 62373-2007 标准详情
- 标准号：DIN EN 62373-2007
- 中文标题：金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验
- 英文标题：Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2007-01
内容简介
This International Standard provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).#,,#
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