EIA JEB 20-1975 标准详情
- 标准号：EIA JEB 20-1975
- 中文标题：公认的惯例制作微电子器件热特性测试，A用户指南
- 英文标题：Accepted Practice For Making Microelectronic Device Thermal Characteristics Test, A User's Guide
- 标准类别：美国电子工业协会EIA
- 发布日期：
EIA JEB 20-1975 公认的惯例制作微电子器件热特性测试，A用户指南
内容简介
The material contained in this document is obsolete, and has been rescinded as of Nov 23, 1988
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
- 标准质量：
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
③ 代购正版，联系：