IEEE 1500-2005 标准详情
- 标准号：IEEE 1500-2005
- 中文标题：嵌入式基于芯片的集成电路的可试性方法
- 英文标题：standard testability method for embedded core-based integrated circuits ieee computer society document
- 标准类别：国际电工协会标准IEEE
- 发布日期：2005-03-20
IEEE 1500-2005 嵌入式基于芯片的集成电路的可试性方法
内容简介
This standard defines a mechanism for the test of core designs within a system on chip (SoC). This mechanism constitutes a hardware architecture and leverages the core test language (CTL) to facilitate communication between core designers and core in
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