IEEE 1149.1-2001 标准详情
- 标准号：IEEE 1149.1-2001
- 中文标题：测试存取口及边界扫描结构
- 英文标题：(Test access port and boundary-scan architecture)
- 标准类别：国际电工协会标准IEEE
- 发布日期：2001
IEEE 1149.1-2001 测试存取口及边界扫描结构
内容简介
Gives a definition of test logic which can be included as an integrated circuit to provide standardized approaches to testing interconnections between integrated circuits when assembled onto a printed circuit, testing the integrated circuit itself, a
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