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IEC 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具

IEC 60444-8-2003 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具

IEC 60444-8-2003 标准详情

  • 标准号:IEC 60444-8-2003
  • 中文标题:石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
  • 英文标题:Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
  • 标准类别:国际电工委员会标准
  • 发布日期:2003-10

内容简介

EXPLAINS THE TEST FIXTURE THAT ALLOWS THE ACCURATE MEASUREMENT OF RESONANCE FREQUENCY, RESONANCE RESISTANCE, AND EQUIVALENT ELECTRICAL CIRCUIT PARAMETERS OF A LEADLESS SURFACE MOUNTED QUARTZ CRYSTAL UNITS OVER THE FREQUENCY RANGE FROM 1 MHZ TO 150 MH

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