EIA JESD 226-2013 标准详情
- 标准号：EIA JESD 226-2013
- 中文标题：
- 英文标题：Rf Biased Life (Rfbl) Test Method
- 标准类别：美国电子工业协会EIA
- 发布日期：
EIA JESD 226-2013
内容简介
Describes stress method, used to determine the effects of RF bias conditions and temperature on Power Amplifier Modules (PAMs) over time.
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