IEC 60749-27 Ed. 2.1 标准详情
- 标准号：IEC 60749-27 Ed. 2.1
- 中文标题：
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
- 标准类别：国际电工委员会IEC
- 发布日期：
IEC 60749-27 Ed. 2.1
内容简介
IEC 60749-27-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第27部分:静电放电(ESD)灵敏度测试.机器模型(MM)+A1-2012 Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine mod
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