IEC 60749-4 CORR 1-2003 标准详情
- 标准号：IEC 60749-4 CORR 1-2003
- 中文标题：
- 英文标题：semiconductor devices. mechanical and climatic test methods. part 4:damp heat,steady state,highly accelerated stress test hast corrigendum 1 dispositifs a semiconducteurs. methodes d essais mecaniques et climatiques. partie 4:essai continu fortemen
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：
