EIA JESD6-1967 标准详情
- 标准号：EIA JESD6-1967
- 中文标题：晶体管的电容?小值测量（ 1999）
- 英文标题：measurement of small values of transistor capacitance r(1999)
- 标准类别：美国电子工业协会标准
- 发布日期：1967-01-01
EIA JESD6-1967 晶体管的电容?小值测量（ 1999）
内容简介
Gives a test method for measuring transistor capacitance using a three-terminal bridge which employs a guard-circuit that eliminates the effect of extraneous capacitance.
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