JEDEC JESD22-B118-2011 标准详情
- 标准号:JEDEC JESD22-B118-2011
- 中文标题:半导体晶片和芯片背面的外部目视检查
- 英文标题:semiconductor wafer and die backside external visual inspection
- 标准类别:电子元件工业联合会标准JEDEC
- 发布日期:2011-03-01
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