GB/T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller
内容简介
国家标准《半导体集成电路 PWM控制器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。本文件描述了半导体集成电路脉冲宽度调制（PWM）控制器（以下简称器件）参数测试方法。本文件适用于半导体集成电路领域中PWM控制器参数的测试。
起草单位
中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所、西安电子科技大学、成都华微电子科技有限公司、
起草人
穆永杰、邓些鹏、杨晓萍、王策、胡巧玉、贾宁刚、闫永超、包军林、杨博、
相近标准
20182269-T-339半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法SJ/T11702-2018半导体集成电路串行外设接口测试方法SJ/T10805-2018半导体集成电路电压比较器测试方法SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T11706-2018半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法JB/T5580-1991半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10804-2000半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理GB/T14028-2018半导体集成电路模拟开关测试方法GB/T42838-2023半导体集成电路霍尔电路测试方法
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。电子文本仅供个人标准化学习、研究使用，不得复制、发行、汇编、翻译或网络传播等。如有侵权，请及时联系我们！