LST EN 60749-8-2004 标准详情
- 标准号：LST EN 60749-8-2004
- 中文标题：半导体器件，机械和气候试验方法，第8部分：密封（ IEC 60749-8 ： 2002 + 2003更正）
- 英文标题：Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + corrigendum 2003)
- 标准类别：立陶宛标准LST
- 发布日期：2004-04-20
