IEC 60749-2002 标准详情
- 标准号：IEC 60749-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods edition 2.2; edition 2: 1996 consolidated with amendments 1: 2000 and 2: 2001
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2002-04-01
IEC 60749-2002 半导体器件.机械和气候试验方法
内容简介
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