IEC 60749-18-2002 标准详情
- 标准号：IEC 60749-18-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量)
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2002-12
IEC 60749-18-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第18部分:电离辐射(总剂量)
内容简介
PROVIDES A TEST PROCEDURE FOR DEFINING REQUIREMENTS FOR TESTING PACKAGED SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS AND DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES FOR IONIZING RADIATION (TOTAL DOSE) EFFECTS FROM A COBALT-60 GAMMA RAY SOURCE. PROPOSES AN ACCELERATED ANNEA
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