EN 60749-34-2010 标准详情
- 标准号：EN 60749-34-2010
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环.
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods -- part 34: power cycling
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2010-12-10
EN 60749-34-2010 半导体器件.机械和气候试验方法.第34部分:电力循环.
内容简介
Specifies a test method used to determine the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the internal semiconductor die and internal connectors.
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