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DIN EN 60749-1-2002 （草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 通用（ IEC 1571分之47 / CDV ： 2001），德国版PREN 60749-1 ：2001

DIN EN 60749-1-2002 （草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 通用（ IEC 1571分之47 / CDV ： 2001），德国版PREN 60749-1 ：2001

DIN EN 60749-1-2002 标准详情

标准号：DIN EN 60749-1-2002
中文标题：（草案）的半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 通用（ IEC 1571分之47 / CDV ： 2001），德国版PREN 60749-1 ：2001
英文标题：(draft) semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - general (iec 47/1571/cdv:2001); german version pren 60749-1:2001
标准类别：德国标准
发布日期：2002-06-01

内容简介

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