DIN EN 60749-10-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分: 机械冲击
DIN EN 60749-10-2003 标准详情
- 标准号：DIN EN 60749-10-2003
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第10部分: 机械冲击
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002); German version EN 60749-10:2002
- 标准类别：德国标准
- 发布日期：2003-04
内容简介
This part of DIN EN 60749 describes a shock test intended to determine the suitability of component parts for use in electronic equipment which may be subjected to moderately severe shocks as a result of suddenly applied forces or abrupt changes in m
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，本网站所提供的电子文本仅供参考，请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习，研究使用。如有侵权，请及时联系我们！
