IEC 60759-1983 标准详情
- 标准号：IEC 60759-1983
- 中文标题：半导体X射线能谱仪的标准试验程序
- 英文标题：Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：1983
IEC 60759-1983 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
内容简介
Such systems consist of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Test procedures for pulse-height analyzers and computers are not covered in this standard. Companion
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