IEC 60749-9-2002 标准详情
- 标准号：IEC 60749-9-2002
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2002-04
IEC 60749-9-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性
内容简介
AIMS AT TESTING AND VERIFYING THAT THE MARKINGS ON SEMICONDUCTOR DEVICES WILL NOT BECOME ILLEGIBLE WHEN SUBJECT TO SOLVENTS OR CLEANING SOLUTIONS COMMONLY USED DURING THE REMOVAL OF SOLDER FLUX RESIDUE FROM THE PRINTED CIRCUIT BOARD ASSEMBLY PROCESS.
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