EN 60749-8-2003 标准详情
- 标准号：EN 60749-8-2003
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封
- 英文标题：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + corrigendum 2003) / Note: Endorsement notice
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2003/06/01
EN 60749-8-2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分：密封
内容简介
Applies to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits). It determines the leak rate of semiconductor devices.
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