EN 60749-38-2008 半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法
EN 60749-38-2008 标准详情
- 标准号：EN 60749-38-2008
- 中文标题：半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods -- part 38: soft error test method for semiconductor devices with memory
- 标准类别：欧盟标准EN
- 发布日期：2008-05-15
内容简介
Describes a procedure for measuring the soft error susceptibility of semiconductor devices with memory when subjected to energetic particles such as alpha radiation.
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