IEC 60749-34-2004 标准详情
- 标准号：IEC 60749-34-2004
- 中文标题：半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分: 功率周期变化
- 英文标题：semiconductor devices - mechanical and climatic test methods - part 34: power cycling
- 标准类别：国际电工委员会标准
- 发布日期：2004-03-10
IEC 60749-34-2004 半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分: 功率周期变化
内容简介
USED TO DETERMINE THE RESISTANCE OF A SEMICONDUCTOR DEVICE TO THERMAL AND MECHANICAL STRESSES DUE TO CYCLING THE POWER DISSIPATION OF THE INTERNAL SEMICONDUCTOR DIE AND INTERNAL CONNECTORS. THIS HAPPENS WHEN LOW-VOLTAGE OPERATING BIASES FOR FORWARD C
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