当前位置:首页国外标准

IEC 60749-26-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电敏感性 (ESD)试验.人体模型(HBM)

IEC 60749-26-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电敏感性 (ESD)试验.人体模型(HBM)

IEC 60749-26-2006 标准详情

  • 标准号:IEC 60749-26-2006
  • 中文标题:半导体器件.机械和气候试验方法.第26部分:静电放电敏感性 (ESD)试验.人体模型(HBM)
  • 英文标题:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
  • 标准类别:国际电工委员会标准
  • 发布日期:2006-07

内容简介

This part of IEC 60749 establishes a standard procedure for testing and classifyingsemiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposureto a defined human body model (HBM) electrostatic discharge (ESD). The obje

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,本网站所提供的电子文本仅供参考,请以正式出版物为准。仅供个人标准化学习,研究使用。如有侵权,请及时联系我们!

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
    ③ 代购正版,联系:联系邮箱