EIA JESD28-A-2001 标准详情
- 标准号：EIA JESD28-A-2001
- 中文标题：过程，用于测量n沟道MOSFET的热载流子引起的直流应力下的降解
- 英文标题：procedure for measuring n-channel mosfet hot-carrier-induced degradation under dc stress
- 标准类别：美国电子工业协会标准
- 发布日期：2001-12-01
EIA JESD28-A-2001 过程，用于测量n沟道MOSFET的热载流子引起的直流应力下的降解
内容简介
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